1主题内容与适用范围

本标准规定了接触式A型显示超声斜射纵被,横波、稍利造、菜姆波的检验技术及它们的校准,同时对系统设备作了适当的规定.

本标准适用于常规超声探伤中超声探头与被检物直接接触进行的斜射探伤

2引用标准

ZB Y 230-84 A型肤冲反射式超声探伤仪通用技术条件

ZB Y 231-84超声探伤用探头性能测试方法

ZB Y 232-84超声探伤用1号标准试块技术条件

ZB J 04001-87 A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法

了一般规定

3.1 耀声斜射探f方法应根据材料的几何形状以及缺陷可能存在的位置、形状、大小、方向和反射率来选择波束方向和振动模式。

3.2操作者需持有国家有关主管部门颁发的并与其工作相适应的资格证书.

3.3 如需定t进行超声斜射探伤,H仪器适用的友联超声波探伤仪垂直线性和水平线性都应按ZB Y 230标准校验或由检验机构和要求检验单位双方同意的其他方法校验.

3.4 检验前应按ZBJ 04001标难校准探伤系统.

3.5 检验结果按披检产品验收技术条件或规定的标准作出评定。

4检验系统

4.1 仪器

超声探伤仪应符合2B Y 230标准,如对探伤仪有特殊要求也可用产品承检单位和送检单位双方同意的其他方法校验

4.2探头

斜射横波检测探头应符合ZB Y 231标准,探头上应附有能按需要的角度和被型并能向被检物传递超声波的斜模,共他探头也可參照ZB Y 231标准执行.

4.3耦合剂

4.3.1 探头斜撰和被检物检查表面间应施加足够的耦合剂,以保证检测时具有良好的声耦合,4.3.2 耦合剂通常为液体或糊状体,典型的概合剂为机油、水、甘油、浆糊、水溶性油和油脂等,耦合剂可深加防锈剂或润湿剂。选择的羁合剂应对产品或工艺无害.

4.3.3不适于探伤的表面必须用适当的方法进行加工。在适于超声波探伤仪探伤后应根据被检材料的表面粗稳度和探测位置取向选择合适的耦合剂,一般来说检专表面粗糙或倾斜的材料时需用较高粘度辆合剂,检验时用的耦合剂须与校准时用的相同。

4.4校准用试块

4.4.1 具有已知尺寸人工反射体的试块都能作为校准用试块.

4.4.2人工反射体的形状可以是横孔、刻糟或平底孔。

4.4.3试块应采用与被检物具有相同声建、衰减、曲率和表面粗糙度的材料。若不能满足这些条件,则应在产品检查时引起的影响作适当修正;对不同具体产品的修正方法应列入产品验收标准中,1.4.4 检测时应根据相应的标准和有关规定选用校准用试块,校准用试块不得混杂使用。

4.5 检验时和校准时被检物表面温度差应在士14℃内,以免在斜模材料内产生较大的衰减和声速差异。

5斜射横波检验技术和校准

5.1 检验技术

5.1.1 最常用的斜射横波折射角应在400~75"范围内,折射角在80-~859时易在材料表面同时产生均利波,这种角度范围内的斜射被应受到限制

5. 1.2 斜射横波检验通常采用单探头型式,也可采用双探头型式,探伤时应充分估计可能产生的缺陷类型及缺陷产生的方向,以便使超声束射向缺陷而产生最理想的反射,如果缺陷的方向是任意的,则常需要用多个声東方向检在或将声柬转动。

5.2校准

5.2.1 斜射榄波探伤由于探测对象不同,因此使用的频率和探头型试以及及他们使用的试块也各不相

同。如被检物有适当的几何形状,则被检物本身就能提供更为可靠的校准。

5.2.2 在具体产品的操临规程中应写明使用频率、探头和试块型式等,需要时应作出距离-幅度校准线。

5.2.3 在常用的声程范围内,斜探头的距离特性曲线往往各不相同,因此在制作校准曲线时必须用实际探伤用的探头.

;斜射纵波检验技术和校准

6.1 检验技术

6.1.1 科射纵波的折射角为1--40(此时同叶存在很异的斜射攒波)

6.1.2 斜射纵波探伤时总是同时存在横波,因此校准测距标度时应于注意,不要错误引用行程时间较大的横波倍号进行校准.

6.1.3 在斜射纵波范围内一般应用的探头可分为三组即:单晶探头、平行声束的双晶探头和交叉声束的双晶探头.

6.1. 3.1单品探

a. 斜射纵波范围的单品探头应用不多,一般单品探头可在轴类的端头利用直接反射或角反射探测缺陷。

当预期缺陷的主要反射面角度为已知时,则检验用声束的角度应与此反射面垂直。在缺陷可能存在的区域,应在声束与缺陷主要平面相互垂直的条件下对材料进行扫查

b. 在特殊情况下奥氏体不锈钢焊缝可采用斜射纵波探伤.

6.1.3.2平行声束双晶探头

当反射体的声程较近时,为避免斜模中的杂波,可采用分开的发射和接收探头或双晶探头。在双晶探头中,发射品片及其斜模与接收品片及其斜模用隔声材料分开,以防止串音,发射声束和接收声束基